Chroma Model 58173-FC LED 覆晶型全光通量自動測試系統
2016-03-18
Chroma Model 58173-FC LED 覆晶型全光通量自動測試系統
硬體設備
半自動化 LED wafer/chip 點測設備
漏電流測試模組
電源量測單元
光學測試模組
ESD 測試模組 (選配)
Chroma Model 58173-FC LED 覆晶型全光通量自動測試系統為針對覆晶型(Flip Chip) LED開發的半自 動點測設備。特殊的無鉆孔玻璃平臺設計使得收光路徑上無任何干涉，因而達到更加精 準的量測。
延用致茂研發的高速精準的LED全光通量的量測方式 ，這種創新的量測方式不僅比傳統 方式收集更多的LED部分光通量，也明顯的改善 提升了量測準確度。
在光學量測方面，主波長、峰波長、色溫等均可 透過致茂獨特的光學設計與元件取得精確且穩 定快速之數據；在電性測試方面，58173-FC 則 具備完整之電源量測單元，無論順向電壓、漏電 流、逆向崩潰電壓等 LED 電性特性，均可于一 次滿足使用者的測試需求。
58173-FC將Prober和Tester完全整合，搭配彈性 調整的軟體操作界面及最佳邏輯演算法使得生產 效益大幅提升 ；完善的量產測試統計報表及分 析工具可以讓使用者用輕松掌握生產狀況。長沙艾克賽普儀器設備有限公司作為臺灣Chroma公司湖南區域的總代理，以下為長沙艾克賽普儀器設備有限公司為您簡單介紹Chroma Model 58173-FC LED 覆晶型全光通量自動測試系統的技術參數及產品特點，如果您想對Chroma Model 58173-FC LED 覆晶型全光通量自動測試系統有更多的了解，歡迎致電長沙艾克賽普儀器設備有限公司，聯系電話：0731-84284278 84284378。更多產品信息歡迎點擊：m.for815.cn。長沙艾克賽普儀器設備有限公司。
Chroma Model 58173-FC LED 覆晶型全光通量自動測試系統主要特色：
提供全方位電性測試 (200V/2A) ，可滿足HV及HP測試
Chroma大面積光偵測器(量測角度可達148度)
半自動精密LED wafer/chip點測設備
特殊無鉆孔真空平臺設計
特制Edge Sensor具有點測針壓穩定，無疲乏與針壓變動問題
獨特螢幕直覺式調針方式
機械視覺定位系統，縮短人工操作時間
Prober與Tester整合，效益大幅提升
自動抽測功能
廣泛的芯片尺寸應用(滿足Chip Size 7~120 mil測試)
彈性調整的軟體操作界面
快速芯片掃描系統
自動破片掃描演算法
遮光罩設計，杜絕背景光干擾
即時顯示點測資料分布圖
完善的量產測試統計報表及分析工具
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